面向 MicroLED 显示器与晶圆的光学测量：适用于多种显示技术的优化色匹配函数

MicroLED 技术正在将显示性能推向新的高度，同时也给光学测量带来了全新的挑战。如何在不牺牲色彩精度的前提下，快速测量数以百万计的微小发光单元？本报告将介绍一种混合式成像测量方案，通过高分辨率相机与参考光谱辐射计相结合，实现针对被测器件的实时色彩校准。该方案还支持多种及优化后的颜色匹配函数，为未来显示技术提供更高的灵活性。通过对数据采集和处理流程的优化，测量速度可提升约 100 倍，同时保持可溯源的测量精度，从晶圆测试到微显示器质量控制均可高效应用。欢迎参加本报告，一起了解新一代测量技术如何进一步释放 MicroLED 制造的潜力。