MicroLEDディスプレイ／ウェハ向け光学測定技術：クロステクノロジー製品に対応した最適等色関数

MicroLED技術はディスプレイ性能を新たなレベルへと引き上げる一方で、光学計測にも新たな課題をもたらしています。数百万個もの微小な発光素子を、色精度を損なうことなく高速に測定するにはどうすればよいのでしょうか。本講演では、高解像度カメラと基準分光放射計を組み合わせ、測定対象ごとにリアルタイムで色校正を行うハイブリッドイメージング計測ソリューションをご紹介します。また、複数の最適化された等色関数にも対応し、将来のディスプレイ技術に必要な柔軟性を提供します。データ取得と解析処理の最適化により、トレーサブルな測定精度を維持しながら、測定速度を約100倍に向上させ、ウェハ検査からマイクロディスプレイまで効率的な品質管理を実現します。次世代の計測技術がMicroLED製造の可能性をどのように広げるのか、ぜひ本講演でご覧ください。