LED 生产测量

在晶圆上完整表述 LED 芯片的特性

最小偏差的精准测量,确保准确分组 LED

如今,传统光源很大程度上已被基于 LED 的光源取代。许多情况下会安装多个 LED,且会尽可能确保在这些 LED 具备相同的光学和电力特性。

这些半导体部件的特性取决于多个因素,包括精准设置层型结构及构成,因此 LED 之间的微小差异可能会对单个 LED 的光学和电力特性产生严重影响。必须准确确定每个 LED 的特性,并据此分组(分箱)。在生产过程中,LED 一般要接受多次测试,具体由制造商决定。这些测试一般在晶圆级(晶圆针测和测试)以及针对已完成、可供出售的 LED 实施。

    LED 工序间的检验挑战

    在生产环境下,测量系统需要满足严格的要求:

    • 24/7 全天候使用,并保持高度可靠性
    • 较短的测量时间,以实现高吞吐量
    • 精准控制测量时间(触发时间)
    • 能够在系统与系统之间,高度再现结果
    • 根据生产过程,专门调节测量套筒

    解决方案:Instrument Systems 提供的 CAS 系列高端阵列光谱仪

    优质阵列光谱仪已广泛用于对 LED 实施精准光学测量。Instrument Systems 提供的 CAS 140D/CAS 120 系列可一次性测量所有光谱,并从光谱中获取所有光学值。整个光学测量完成只需几毫秒。CAS 系列光谱仪几乎不包含任何活动部件,所以非常可靠,无需过多维护。

    生产过程精细,且按国家标准(例如 PTB 或 NIST)实施校准,因此确保了测量结果的可比较性。此外,Instrument Systems 还开发了广泛的测量套筒产品组合,搭配丰富的配件,可以满足各种生产要求。

    与国际 LED 制造商建立合作

    多年以来,Instrument Systems 一直与大型 LED 制造商及其集成商合作。LED 测试系统全球安装数量多达数千台仪器。

    我们在以下领域拥有丰富的专业知识,能够帮助生产客户获益:

    • 经证明适合生产环境的光谱仪测量系统产品组合 (CAS 140D, CAS 120)
    • 测量任务的计量澄清
    • 本地、异地和现场校准
    • 监控和审查程序
    • 校准源供应
    • 并行测量
    • 全球服务网络

    您面临着哪些特有的挑战?我们将和您一起寻找合适的解决方案——敬请垂询!

    LED multi-chip testing