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NEWS

LightCon 二十周年 — LightCon 3.0 正式发布

自首次推出以来，LightCon 已陪伴行业走过二十年。如今，全新版本 LightCon 3.0 正式发布。二十年来，LightCon 一直作为 Optronik Line AMS 和 SMS Type A…

展会活动

EVENTS

塞萨洛尼基国际博览会（TIF 2026）

Date: 2026/09/05 – 2026/09/13
Location: 希腊塞萨洛尼基

欢迎莅临柯尼卡美能达展位（13 号馆 J18 展位），现场体验 CoboTop—我们的协作机器人解决方案，助力提升 AR/VR 产品质量检测效率。

技术文章

Article

用于 MicroLED 显示与晶圆测试的光学测量方法

MicroLED 的量产对测试速度与测量准确性提出了更高要求。本文由 Tobias Steinel 博士介绍了一种新的光学测量方案，将高分辨率相机系统与实时光谱校正功能相结合，实现了单发光单元级的光谱测量，并在保持测量准确性的同时显著缩短了测试时间。

专题演讲

Talk

面向 MicroLED 显示器与晶圆的光学测量：适用于多种显示技术的优化色匹配函数

Date: 2026/09/16 – 2026/09/16, 15:15 (CEST)

Dr. Tobias Steinel

Location: 荷兰埃因霍温

媒体发布

Press

Instrument Systems expands NVIS display measurement portfolio according to MIL-STD-3009

Instrument Systems presents its portfolio of measurement solutions for night-vision-compatible lighting and displays according to MIL-STD-3009. These solutions…

电子快报

Letter

September Events & 40 Years of Instrument Systems

September brings several opportunities to meet our experts in person. We will be showcasing our latest measurement solutions at four upcoming trade shows, covering…

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