企业动态

最新消息

NEWS

欢迎莅临 2026 年 DVN 汽车照明研讨会（慕尼黑）

我们将参加于 2026 年 2 月 4–5 日在慕尼黑举行的第 39 届 DVN 汽车照明研讨会（DVN Lighting Workshop）。欢迎莅临 S36 号展位，了解先进的光学测量解决方案如何支持现代汽车外部照明系统的测试与验证，并紧扣本届大会主题“2035 汽车照明：下一步是什么？”。 …

展会活动

EVENTS

Symposium "Licht und Gesundheit"

Date: 2026/02/25 – 2026/02/26
Location: Bundesanstalt für Arbeitsschutz und Arbeitsmedizin (BAuA), Dortmund

通过高精度光谱辐射测量实现UV与IR光源的精确测试，助力产品安全与可靠合规。

技术文章

Article

用于 MicroLED 显示与晶圆测试的光学测量方法

MicroLED 的量产对测试速度与测量准确性提出了更高要求。本文由 Tobias Steinel 博士介绍了一种新的光学测量方案，将高分辨率相机系统与实时光谱校正功能相结合，实现了单发光单元级的光谱测量，并在保持测量准确性的同时显著缩短了测试时间。

专题演讲

Talk

2D Display Testing with Multiple Color Matching Functions

Date: 2026/03/11 – 2026/03/12

Andreas Liebel

Location: NCC Ost Convention Centre, Nuremberg, Germany

媒体发布

Press

Instrument Systems Appoints Dr. Marc Lünnemann as New CEO

Instrument Systems GmbH, a leading provider of high‑precision light measurement technology and part of the Konica Minolta Group, has appointed Dr. Marc Lünnemann…

电子快报

Letter

New Technology: Meet LumiTop X30 AR at SPIE 2026

In this issue, we introduce you to our new LumiTop X30 AR – an advanced camera system for precise characterization of near-eye displays used in AR glasses. In…

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