光和显示屏测量技术研讨会

2019/10/14

作为领先的 LED、SSL 和显示屏测量技术制造商,Instrument Systems 将第 5 次举办关于“光和显示屏测量技术的理论与实践”研讨会 *)。本次研讨会涵盖多种主题,包括光度测量技术的基本原理、先进的 LED 和显示屏技术,以及实验室和生产环境目前面临的光测量挑战。

会议期间,我们经验丰富的产品专家与国际知名的显示屏测量技术专家 Michael E. Becker 博士一起为大家带来一系列讲座和实时演示。本次研讨会非常适合从事相关领域工作并想要参加高级培训的工程师和技术人员。本次研讨会面向行业新人和资深人士。

如需了解更多信息,请参考邀请函

日期:

2019 11 26 日至 27

Novotel München City, Hochstrasse 11, 81669 Munich

欢迎光临!

*) 本研讨会使用德语