Instrument Systems 将亮相 CIOE 2025 深圳光博会

Instrument Systems 将携手合作伙伴精恩光学参加于 2025 年 9 月 10–12 日在深圳国际会展中心举办的第 26 届中国国际光电博览会 (CIOE 2025)。欢迎莅临 3 号馆 3A40-9 展位。

展会重点展示：

• AR/VR 显示测试：配备专用光学镜头的成像色度计，用于近眼显示的亮度和颜色测量。
• XR 测试光源：用于 AR 眼镜和透视显示的表征，符合 IEC 与 IDMS 标准。
• OLED/Micro(O)LED 与低亮度显示测试：LumiTop X 系列高分辨率成像色度计，从高灵敏度的低亮度测量到超高分辨率分析，全面覆盖研发与生产需求。

诚邀您的莅临！