Datum: 31.05.2021
Dr. Tobias Steinel
Ort: ICDT, Online / Beijing Etrong International Exhibition & Convention Center, Konferenzhalle 1, Meetingraum C
Die aufstrebende μLED Displaytechnologie verspricht hohe Kontraste, schnelle Antwortzeiten, ein breites Farbspektrum, geringen Energieverbrauch und Langlebigkeit. Jedoch ist die Technologie nicht nur eine Herausforderung hinsichtlich des Massentransfers der μLED vom Wafer auf das Display, sondern auch hinsichtlich der massiven Parallelisierung optischer Qualitätskontrolle in unterschiedlichen Fertigungsschritten.
Darüber hinaus ergeben sich bei μLEDs messtechnische Herausforderungen aufgrund ihrer geringen Größe, der geringen spektralen Bandbreite und beachtlichen Herstellungstoleranzen in Bezug auf maximale Wellenlänge und Bandbreite. Was Geschwindigkeit und Auflösung betrifft, ist eine hochauflösende Kamera das bevorzugte Testinstrument, da Displaypixel oder einzelne μLEDs auf einem Wafer oder Display mit einer einzigen Aufnahme parallel gemessen werden können. Wenn es um die absolute Farbe geht ist jedoch die Messung mit einem Spektroradiometer die genaueste Methode. Demzufolge haben wir diese beiden Messtechniken in unserem LumiTop Messsystem kombiniert. Für höchste μLED Messgenauigkeit wird dabei eine live Kalibrierung durchgeführt, optimiert für jedes einzelne gemachte Bild, die farbgenaue μLED-Displays höchster Qualität garantiert.
