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Verbesserte TOP 300-Unterstützung in SpecWin Pro 5.0

SpecWin Pro 5.0, die Standardsoftware für alle Spektralradiometer von Instrument Systems, bietet jetzt eine erweiterte Integration und Unterstützung für die…

Events

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SPIE.AR|VR|MR 2026

Datum: 17.01.2026 – 22.01.2026
Ort: San Francisco, CA/USA

Besuchen Sie uns am Stand #6501!

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Fachartikel

Artikel

High Accuracy Optical Metrology for MicroLED Displays and Wafers

Die Massenproduktion von MicroLEDs erfordert sowohl Geschwindigkeit als auch Genauigkeit.In diesem Artikel stellt Dr. Tobias Steinel einen innovativen Messansatz…

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Fachvorträge

Vortrag

Impact of backgrounds on virtual image quality in AR glasses

Datum: 20.01.2026 – 20.01.2026, 14:20 Uhr (GMT-7)

Dr. Sascha Reinhardt

Ort: Moscone Center, San Francisco, CA/USA

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Pressemeldungen

Presse

Das neue STA Stand-Alone Screen Photometer für schnelle fahrzeugbezogene Scheinwerfertests

Das STA Stand-Alone Screen Photometer ergänzt das Produktportfolio von Instrument Systems um eine modulare, fahrzeugbasierte Messlösung, die die bildgebende…

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Precision Meets Innovation: Your End‑of‑Year Edition

Stay ahead in optical metrology with our latest software updates, expert insights, and event news. In this issue, discover powerful new features in SpecWin Pro…

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