Vortrag: Metrological Challenges of non-planar Displays

Die 3. Internationale Konferenz für Displaytechnologie (ICDT), die vom 26.-28. März 2019 in Kunshan / China stattfindet,  wird von der SID (Society for Information Display) organisiert und stellt eine geeignete Plattform für Displaysprofis dar. Instrument Systems ist dort mit einem Vortrag vertreten. Andreas Kreisel, unser Experte für neue Displaytechnologien, nutzt die Gelegenheit, um über messtechnische Herausforderungen der Displaytechnologien zu sprechen. Er zeigt die wichtigsten metrologischen Messunterschiede zwischen planaren und zylindrischen Displays bezüglich lateraler und direktionaler Gleichmäßigkeit der Leuchtdichte und des Farborts, bildgebenden Messgeräten (spot LMD) und Lichtpunkt-Messgeräten (Spot LMD). Darüber hinaus wird er auf die besonderen Anforderungen zur Beurteilung optischer Eigenschaften und Displays mit gekrümmter Oberfläche eingehen.

Vortragsinformationen:

Andreas Kreisel, Instrument Systems GmbH
"Metrological Challenges of non-planar Displays"
Donnerstag, 28. März 2019: 17:40 – 18:00 Uhr
International Conference on Display Technology ICDT, China

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