以光学计量领域的新进展开启 2026 年

新的一年，我们将携多项光学计量领域的新进展亮相，并积极参与多场重要的国际行业展会。

今年 1 月，我们将推出全新的 LumiTop X30 AR 相机系统，用于 AR 眼镜中近眼显示（Near-Eye Display）的高精度表征。该系统将于 SPIE AR/VR/MR 2026（旧金山） 首次公开亮相。LumiTop X30 AR 将高空间分辨率与基于光谱辐射计的颜色校准相结合，实现高精度的亮度与颜色测量。同时，系统还可对虚像画质进行深入分析，包括清晰度、对比度、畸变及均匀性等关键指标，非常适合用于新一代 AR 光学与显示技术的研发环境。

在 SPIE AR/VR/MR 展会上，我们还将展示 LumiTop X150 高分辨率成像系统，其分辨率最高可达 600 MP，适用于 Micro-（O）LED 的精细分析；以及LumiTop AR/VR 系统，可实现视场角高达 120° 的 VR 头显全视场评估。我们将与 Konica Minolta 和Radiant Vision Systems联合，在 6501 号展位展示最新的 AR/VR 显示测量解决方案。

此外，Dr. Sascha Reinhardt 将带来一场技术演讲，分享真实背景环境对 AR 眼镜中虚像画质的影响。

与此同时，我们也将参加 SPIE Photonics West 2026，并在 德国展团（展位号 4205-60） 展出。届时将重点介绍覆盖紫外至近红外（200 nm–2150 nm）光谱范围的高端辐射计量解决方案与参考标准，适用于 VCSEL 与 NIR LED 测试、IEC 62471 光生物安全评估、高精度紫外测量、光伏计量、二维近红外发射分析，以及 MIL-STD-3009 / NVIS 照明评估等应用场景。

期待与您在现场交流，共同探讨您的测量需求。