Start in das Jahr 2026 mit neuen Impulsen in der optischen Messtechnik

Wir starten 2026 mit neuen Entwicklungen in der optischen Messtechnik und einer starken Präsenz auf internationalen Fachmessen.
Im Januar präsentieren wir LumiTop X30 AR, unser neuestes Kamerasystem für die präzise Charakterisierung von Near-Eye-Displays in AR-Brillen. Das System wird erstmals auf der SPIE AR/VR/MR 2026 in San Francisco vorgestellt. LumiTop X30 AR verbindet eine hohe räumliche Auflösung mit einer spektralradiometerbasierten Farbkalibrierung und ermöglicht damit äußerst präzise und reproduzierbare Leuchtdichte- und Farbmessungen. Darüber hinaus erlaubt das System eine detaillierte Bewertung der virtuellen Bildqualität, in Bezug auf Schärfe, Kontrast, Verzerrung und Homogenität. Damit ist es besonders gut für Forschungs- und Entwicklungsumgebungen geeignet, in denen AR-Optiken und Displays der nächsten Generation entstehen.
Auf der SPIE AR/VR/MR zeigen wir außerdem LumiTop X150, ein hochauflösendes Imaging-System mit bis zu 600 MPx für die detaillierte Analyse von Micro(O)LEDs, sowie LumiTop AR/VR für die vollflächige Bewertung von VR-Headsets mit Sichtfeldern von bis zu 120°. Gemeinsam mit Konica Minolta und Radiant Vision Systems präsentieren wir unsere aktuellen AR/VR-Display-Messlösungen am Stand Nr. 6501.
Ein technischer Vortrag von Dr. Sascha Reinhardt gibt zudem Einblicke darin, wie reale Hintergrundumgebungen die Qualität virtueller Bilder in AR-Brillen beeinflussen.
Parallel dazu sind wir auf der SPIE Photonics West 2026 im German Pavilion (Stand Nr. 4205-60) vertreten. Dort zeigen wir unsere High-End-Lösungen für die radiometrische Messtechnik und Referenzstandards für den Spektralbereich von UV (200 nm) bis NIR (2150 nm). Die Systeme unterstützen anspruchsvolle Anwendungen wie VCSEL- und NIR-LED-Tests, photobiologische Sicherheitsbewertungen nach IEC 62471, hochgenaue UV-Messungen, photovoltaische Messtechnik, 2D-NIR-Emissionsanalysen sowie MIL-STD-3009- und NVIS-Lichtbewertungen.
Wir freuen uns darauf, Sie persönlich zu treffen und über Ihre messtechnischen Anforderungen zu sprechen.