光学計測の新たな展開とともに迎える 2026 年

2026 年のスタートにあたり、当社は光学計測分野における最新の技術革新とともに、主要な国際展示会への積極的な出展を予定しています。

1 月には、AR グラスに用いられるニアアイディスプレイの高精度評価を目的とした最新カメラシステム LumiTop X30 AR を発表します。本システムは SPIE AR/VR/MR 2026（サンフランシスコ） にて初披露となります。LumiTop X30 AR は、高い空間分解能と分光放射計に基づくカラーキャリブレーションを組み合わせることで、極めて高精度な輝度および色度測定を実現します。さらに、シャープネス、コントラスト、歪み、均一性など、仮想画像品質の詳細な解析にも対応しており、次世代 AR 光学系およびディスプレイの研究開発環境に最適です。

SPIE AR/VR/MR ではこのほか、最大 600 メガピクセルの高解像度で Micro-（O）LED を詳細に解析できる LumiTop X150、および視野角最大 120° の VR ヘッドセットをフルフィールドで評価可能な LumiTop AR/VR も展示します。Konica Minolta、Radiant Vision Systems と共同で、最新の AR/VR ディスプレイ計測ソリューションを ブース番号 6501 にてご紹介します。

また、Dr. Sascha Reinhardt による技術講演では、実環境の背景が AR グラスにおける仮想画像品質に与える影響について解説します。

同時期に開催されるSPIE Photonics West 2026 では、ドイツパビリオン（ブース番号 4205-60） に出展します。ここでは、UV（200 nm）から NIR（2150 nm）までの広いスペクトル範囲をカバーする高性能な放射計測ソリューションおよびリファレンス標準をご紹介します。VCSEL や NIR LED の評価、IEC 62471 に基づく光生物学的安全評価、高精度 UV 測定、太陽光発電計測、2D NIR 発光解析、MIL-STD-3009 / NVIS 照明評価など、要求の厳しいアプリケーションに対応します。

皆さまと直接お会いし、計測に関する課題について意見交換できることを楽しみにしております。