全新 LumiTop M150：用于 MicroLED 表征的高分辨率成像色度计

随着 MicroLED 像素尺寸不断缩小、发光器件阵列日益复杂，研发与质量控制对空间分辨测量和色度测量提出了更高要求。Instrument Systems 全新推出的 LumiTop M150 高分辨率成像色度计，可用于 MicroLED 显示屏、微显示器及晶圆的表征。

LumiTop M150 将 1.51 亿像素 RGB 相机、显微光学系统与 CAS 140D 光谱辐射计的同步光谱参考测量相结合，可对大型阵列中的单个发光器件进行详细分析。工程师能够评估亮度、色度坐标、发光器件的位置及尺寸，以及空间均匀性和潜在缺陷。

可更换的显微光学系统提供 4.5×、11.25× 和 18× 三种放大倍率，可根据被测器件的尺寸调整视场和空间分辨率。同步光谱参考测量有助于提高色度测量的准确性，尤其适用于窄带发射的 MicroLED。

LumiTop M150 可作为独立的成像色度计使用，也可集成至包括 DMS 测角仪在内的自动化测量系统。除 MicroLED 显示屏、微显示器及晶圆测试外，根据具体测量配置，该系统还可用于新兴光互连领域的测量应用，包括共封装光学（CPO）和近封装光学（NPO）。

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