Neu: LumiTop M150 – Hochauflösende Leuchtdichte- und Farbmesskamera zur MicroLED-Charakterisierung

Mit der zunehmenden Miniaturisierung von MicroLED-Pixeln und immer komplexeren Emitter-Arrays steigen die Anforderungen an ortsaufgelöste und farbmetrische Messungen in Entwicklung und Qualitätskontrolle. Mit der neuen LumiTop M150 stellt Instrument Systems eine hochauflösende Leuchtdichte- und Farbmesskamera zur Charakterisierung von MicroLED-Displays, Mikrodisplays und Wafern vor.

Die LumiTop M150 kombiniert eine 151-Megapixel-RGB-Kamera mit Mikroskopoptiken und einer simultanen spektralen Referenzmessung durch ein CAS Spektralradiometer. Damit ermöglicht das System die detaillierte Analyse einzelner Emitter in großen Arrays. Anwender können Leuchtdichte, Farbort, Position und Größe der Emitter sowie die räumliche Homogenität und mögliche Defekte untersuchen.

Austauschbare Mikroskopoptiken mit Vergrößerungen von 4,5×, 11,25× und 18× ermöglichen es, das Sichtfeld und die Ortsauflösung an die Größe des Prüflings anzupassen. Die simultane spektrale Referenzmessung unterstützt eine genaue farbmetrische Auswertung, insbesondere bei schmalbandiger MicroLED-Emission.

Die LumiTop M150 lässt sich flexibel einsetzen: als eigenständige Leuchtdichte- und Farbmesskamera oder integriert in automatisierte Messsysteme, beispielsweise DMS-Goniometer. Neben MicroLED-Displays, Mikrodisplays und Wafer-Tests eröffnet das System auch Messmöglichkeiten im Bereich optischer Interconnects, darunter Co-Packaged Optics (CPO) und Near-Packaged Optics (NPO). Die Eignung hängt dabei von der jeweiligen Messkonfiguration ab.

Erfahren Sie mehr über die LumiTop M150.