在纽伦堡 edc 2023 的演讲
2023/03/06
我们邀请您参加2023年3月15日第4场次上的演讲：“显示测量中全球和滚动快门伪影的表征和预防”(Characterization and Prevention of Global and Rolling Shutter Artifacts in Display Metrology)。Andreas Liebel将讨论根据光测量相机的快门类型对图像伪影进行系统表征，并提出安全预防这些伪影以实现高精度显示测试的方法。现代显示屏具备调节刷新率和占空比的能力，以节省能源并动态适应显示内容。这些特性给显示测量设备带来了新的挑战，并可能产生图像伪影。