Vortrag auf der edc 2023 in Nürnberg
06.03.2023
Auf der edc 2023 präsentiert Instrument Systems einen Vortrag zum Thema „Characterization and Prevention of Global and Rolling Shutter Artifacts in Display Metrology“. Andreas Liebel wird die systematische Charakterisierung von Bildartefakten in Abhängigkeit vom Verschlusstyp der Lichtmesskamera diskutieren und Lösungen vorschlagen, um diese Artefakte für hochgenaue Displaytests sicher zu verhindern. Hochmoderne Displays haben die Möglichkeit, die Bildwiederholfrequenz und den Tastgrad zu modulieren, um Energie zu sparen und sich dynamisch an den Bildschirminhalt anzupassen. Diese Merkmale stellen neue Herausforderungen für Displaytestsysteme dar und können Bildartefakte erzeugen.