VCSEL 测量系统 使用低至 0.12 nm 的光谱分辨率测定 VCSEL 特性
用于可靠 VCSEL 特性测定的精密系统
VCSEL 具有出色的光束特性，因此特别适用于关键应用。典型示例是通过 LiDAR 进行面部识别。但是，在有人员活动的环境中使用激光二极管，使精确测定其光束特性变得至关重要，并对使用的测量系统提出了巨大的挑战。
在 CAS 系列光谱仪高分辨率版本的基础上，Instrument Systems 提供了针对实验室 VCSEL 特性测定而进行优化调节的测量系统。借助合适的配件，可满足不同的个别需求。请随时与我们联系！
关键特性：
- 低至 0.12 nm 的出色光谱分辨率
- 4 ms 以上的积分时间
- 专用于脉冲激光二极管/VCSEL 的阵列光谱仪
测量挑战
激光二极管通常在很窄的光谱范围内提供极高的性能。因此，Instrument Systems 提供光谱分辨率高达 0.1x nm、积分时间达到 4 ms 以上的光谱仪，用于实验室 VCSEL 测量。这些光谱仪的可追溯绝对校准的一个优势是可从测得的光谱中简单地计算出辐射通量。或者，该测量系统也可由光电二极管扩展，例如，用于测量脉冲激光二极管的脉冲波形。如果需要测试低至 ns 范围的脉冲，可使用专用系统 (PVT 110)。如果您有此类需求，请联系我们。
系统配置
实验室用于测定激光二极管/VCSEL 的辐射通量的一体化系统通常包含以下部件：
系统应用咨询服务
我们的系统专家很乐意为您的特殊应用提供实用建议。我们将和您一起寻找合适的解决方案—敬请垂询！
