VCSEL 生产测试系统

脉冲 VCSEL 的完整特性测定

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用于 VCSEL 工序间检验的坚固的完整系统

在选择测量系统时,激光二极管/VCSEL 的工序间检验要求具有较高的精度和稳定性。可靠精确地测量光学特性和时序脉冲性能是在生产过程中,对激光二极管实现可再现特性测定和分类的前提条件。

基于 CAS 系列光谱仪的高分辨率版本,除 VCSEL 实验室测量站实验室测量站之外,Instrument Systems 还提供了多个针对在生产中进行 VCSEL 特性测定而优化调节的完整解决方案,包括 PVT 200,它包含专用于对纳秒级脉冲实施时间分辨测量的测量系统。

Instrument Systems 测量解决方案的模块化设置和 CAS-HR 系列(CAS 140CT-HR、CAS 120-HR)的出色光谱分辨率支持各种应用。集成可追溯、绝对校准光电二极管后,辐射通量作为直接被测变量输出,这对确保测量精度至关重要。

此外,还可集成直视快速光电二极管,用于测量单个脉冲或完整脉冲序列的轨迹。这需要额外驱动器和千兆赫运行范围的读出电子装置。

关键特性:

  • 专用于脉冲激光二极管/VCSEL 的阵列光谱仪
  • 高达 0.12 nm 的高光谱分辨率
  • 可靠且经济高效的生产和实验室解决方案
  • 使用校准光电二极管的可选性能测量
  • 可选测量功能:低至 1ns 的极短脉冲测量

测量挑战

在生产环境中,在短周期时间内保持高吞吐率 (UPH) 至关重要。激光二极管通常在很窄的光谱范围内拥有高功率,可确保在短积分时间内适当调制探测器。因此,要以高吞吐量对相关读数进行周期精准捕获,需要具有尽可能最短测量时间的测量系统。

需要精密电子设备,尤其是用于测定超短的高频脉冲特性,因为短脉冲必须在 10 A 及以上的电流下产生,并且测量数据必须以几千兆赫的采样率进行采集。

系统配置

Instrument Systems 用于在生产中快速精确地测量激光二极管/VCSEL 的辐射通量的一体化系统通常包含以下部件:

部件

描述

阵列光谱仪

- 具有高达 0.2 nm 光谱分辨率的高分辨率 CAS 140CT-HR,作为配有带制冷的 CCD 探测器的高端测量解决方案,可实现最高稳定性,例如在参考系统中。

- 具有高达 0.12 nm 光谱分辨率的高分辨率 CAS 120B-HR,作为 CAS 140CT-HR 的高性能但经济高效的替代产品。

积分球

- 具有小内径的 ISP 75 和 ISP 100。外形小巧,特别适合安装在处理器和探测器系统中。

- 可选:ISP 100,具有用于连接光谱仪和光电二极管(用于测定激光二极管的功率或脉冲波形)的可变端口配置,以及以低至 1 ns 脉冲持续时间检测极短脉冲的功能(系统 PVT 200)。

- 替代产品:ISP 150L,内径为 150 mm,直径为 50 mm 的测量端口可用于测量较大激光模块/阵列,带有借助集成式辅助光源实现的自吸收修正功能。

校准可追溯至国家标准 PTB 或 NIST 的校准。

电子设备

用于以高电流(高达 15A)生成短脉冲 (≥ 1 ns) 的驱动电子设备。用于快速光电二极管信号检测的采样电子设备(或示波器)。

软件CAS.dll 和 SDK,用于集成到客户的生产流程中。
IR 参考 LED
(可选)
具有 860 nm 和 950 nm 的参考 LED ACS-570-15、570-17。当与内部 PSU 10 电源结合使用时,可形成一个高度稳定的参考系统。

客制化系统配置

我们的系统专家将很乐意为您的特殊应用提供实用建议。我们提供全球服务,可保证在系统的整个生命周期内提供快速设置和全面支持。敬请垂询!

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