LumiTop X150 用于像素级质量控制的超高分辨率、一体化解决方案


LumiTop X150: 亚像素分析,確保卓越的显示效果!
LumiTop X150 是一款高分辨率的图像亮度与色度测量仪,进一步拓展了我们 LumiTop 测量系统的三合一测量理念。该产品专为应对 OLED 或 µLED 显示屏在亚像素质量控制方面日益增长的测量需求而设计,适用于显示屏的开发与生产场景。
像素缺陷测试
借助像素移位技术,LumiTop X150 可实现每个颜色通道高达 150 MP 的有效分辨率。通过单像素级分析,可检测多种类型的像素缺陷,例如亮度不一致或色差,并支持亮度的像素级校正。这使得该系统非常适合用于高分辨率显示屏的亚像素级质量检测(如 Demura 过程),同样适用于新型显示技术的研发。
灵活应用于多种行业场景
LumiTop X150 可搭配多种镜头,适用于测试微型显示器、智能手表、手机、平板电脑以及 8K 显示器等多种设备,兼容多种显示技术。
该系统采用集成化设计,可在一个测试工位完成多项光学测量任务。结合光谱参考通道,有助于缩短测量时间并实现稳定的测量精度。硬件触发功能支持对测量流程进行时间控制,特别适用于需要调制或同步光源的测试,如 OLED 或 MicroLED 设备。
LumiTop X150 – 产品特长:
- 图像亮度和色度测量分辨率高达每颜色通道 600 MP(像素移位模式)
- 基于创新像素移位技术的三合一测量系统,整合成像、光谱与光电测量
- 支持全面评估:亮度与色度均匀性、色差、像素缺陷、对比度、伽马曲线、白点、闪烁响应以及中心点的光谱特性
- 测量时间短,精度高,适用于要求严格的质量控制流程
- 兼容各种显示屏技术,尤其适用于 OLED 和 MicroLED 相关应用
LumiTop X150 – 面向像素级光学检测的专业选择
LumiTop X150 专为高分辨率显示器的像素级分析与校正而设计,适用于多种显示设备的质量检测与研发,包括用于 AR/VR 的微显示器、智能手表与手机、电视面板、背光模块以及 µLED 晶圆测试。通过高分辨率成像与精准测量,该系统可协助企业在生产线或实验室环境中实现高效稳定的像素级质量控制,提升产品一致性与可靠性。