LumiTop 显示屏生产测试 用于生产线质量控制的一体化解决方案
一个测试站 – 三个传感器 – 所有测试
LumiTop 系列显示屏测试系统针对生产质量控制而优化。该系统包含一个 LumiTop 成像色度测量仪、一个 CAS 系列高端光谱仪和一个光电二极管。通过这种组合方式,可在一个测试站执行所有相关光学测试。最重要的测试变量包括:
- 显示屏均匀性测量(亮度和色度)
- 缺陷检测 (Mura)
- 伽马指数测定
- 闪烁和亮度调节
这个创新概念支持同时测量所有三个传感器,由于光谱参考测量,不仅保证了极短的测量时间,而且保证了绝对高的精度。无论样本采用何种显示屏技术,都可使用 LumiTop 测量解决方案。该方案特别适合测量复杂的新显示屏技术,如 OLED 或 µLED 显示屏。
LumiTop 成像色度测量仪提供三个版本,并具有 6 MP 至 150 MP 的颜色传感器。通过像素移位器,可进行亚像素分析,例如使用 LumiTop X150 时,每颜色通道分辨率为 150 MP。
关键特性:
- 标准光谱仪使二维测量达到超高准确性
- 极短的测量时间
- 同时测量闪烁或亮度调节
- 用于所有相关光学测试的一体化测量解决方案
- 可轻松集成到生产线
- 绝对精度:无需标准样本校准
- 带 6、12 和 150 MP 颜色传感器的成像色度测量仪
测量挑战:高性能和生产适宜性
对用于显示屏质量控制的测试系统通常有非常严格的要求:
- 高精度、再现性和可靠性
- 坚固可靠,可在恶劣的生产条件下使用
- 长时间全天候运行
- 测量时间短,遵守高周期时间
- 轻松集成到生产线
Instrument Systems 通过其智能 LumiTop 测量概念满足这些要求,所有相关光学生产测试均在一个测量站中进行。多年来,LumiTop 系统一直在许多著名显示屏制造商的生产设施中进行试验和测试,设立了全球标准。
系统配置
LumiTop 系列中的完整系统通常包含以下部件:
客制化系统配置
我们的系统专家将很乐意为您的特殊应用提供实用建议。我们提供全球服务,可保证在系统的整个生命周期内提供快速设置和全面支持。
LumiTop 4000 / 5300
用于显示屏生产的成像光度和色度计
LumiTop X150
用于像素级质量控制的超高分辨率、一体化解决方案
CAS 140D
高精度、快速阵列光谱仪 – 面向高要求测量
CAS 140 IR
用于精确红外辐射测量的阵列式光谱辐射仪
CAS 125
用于精密和时间关键型测量任务的阵列光谱仪
LumiSuite
用于确定显示屏特性的专业软件
SpecWin Pro
用于获取并分析光谱测量数据的专业软件
SpecWin Light
用于简单测量任务的强大软件
Calaris 校准软件
用于正确测量辐射
光谱仪软件开发工具包
Instrument Systems 光谱仪编程接口
杂散光校正
用于减少光谱中的杂散光的校正矩阵