VTC 4000 VCSEL阵列的二维近场分析
VTC 4000 – 快速且高精度的VCSEL阵列近场测试
Instrument Systems的VTC 4000近场相机是专为快速精确2D分析VCSEL阵列而开发。它可以同时对阵列中各个发射器的所有相关参数进行偏振控制的表征。VTC 测量系统相机基于业界领先的校准概念，依据德国国家标准（PTB）进行可追溯的校准，实现高测量精度的二维VCSEL质量分析。
VTC 4000分有两个版本：不带光纤输出的VTC4000-100用于确定单个发射器的功率、偏振和空间辐射特性，以及带光纤输出的VTC4000-200用于结合光谱仪来做进一步的波长分析。
偏振控制的测量概念保证高精度
VTC 4000的创新校准概念是基于平场及偏振校正。偏振校正是在in-line分析发射光，并校正光学系统的偏振依赖性。此校正使相机只需单次拍摄，就能绝对测量视野内每个单一发射体的功率和偏振特性。
此独特的测量概念可减低功率测量的误差预算，并实现高测量精度，这是目前其他VCSEL测量系统所不能提供的。
发射器的快速质量控制
VTC 4000只需通过拍摄一张二维图像，就能对相机视场内的光点进行功率和偏振测量。适合应用在生产线的质量控制上，来分析阵列的均匀性并检测出偏离的单个发射器。
单个发射器的空间辐射特性
单个发射器的空间辐射特性，可以使用VTC 4000的Z-定位装置进行表征。通过相机在不同的Z位置拍摄图像，测量出辐射束腰（emission waist）。并由此计算出每个发射器的发散性、数值孔径(NA)和激光光束质量(M²)。
波长测量
VTC 4000还有一个带光纤输出的版本，可以连接CAS系列高分辨率光谱仪，以对图像中心的单个发射器进行光谱分析。通过XY定位装置，VTC 4000便可以分析阵列中所有单发射体的光谱特性。
VTC 4000 - 技术数据:
- VCSEL阵列的近场，快速2D表征
- 有不带输出光纤及带光纤的类型，可连接CAS系列高分辨率光谱仪
- 可同时分析相机视场内单个发射器的功率、偏振度、偏振角度和位置
- 可评估单个发射体的发散性、数值孔径、M²值和空间辐射特性
- 光谱及波长分析 (仅适用于VTC 4000-200)
- 具有12 MP像素的高分辨率相机
- 可在910 – 980 nm范围内进行校准
- 功率的工厂校准可追溯至德国PTB国家标准
- 高效的SDK，可简单集成进生产线
VTC 4000 – 阵列近场测量的系统解决方案
VTC 4000是专门为VCSEL阵列的近场测量而开发，是同时适合实验室和生产环境的测量解决方案。
其应用领域包括VCSEL测试，特别是智能手机的3D传感（如人脸和物体识别）和车用领域（如LiDAR系统）。
VTC 4000测量解决方案为单个发射器的分析和质量控制提供了快速和准确的结果。
