VTC 4000 VCSELアレイの2次元ニアフィールド
VTC 4000 – VCSELアレイに対する最高精度のニアフィールド測定を高速化
VTC 4000ニアフィールドカメラは、VCSELアレイの超高速かつ高精度な2次元解析を目的として特別に開発されました。このカメラは、VCSELアレイのドット（発光点）に対するすべての関連パラメータを同時に偏光制御して特性評価することができます。独自の校正手法により、これまでにない測定精度で2次元の品質解析を行うことができます。Instrument Systemsのすべての測定器と同様に、VTC 4000カメラはドイツ国立理工学研究所（PTB）の国家規格に基づいてトレーサブルに校正されており、信頼できる絶対値精度で測定を行うことができます。
VTC4000には2つのバージョンがあります。ファイバー出力を持たないVTC 4000-100は、ドット（発光点）の出力、偏光、そして配光特性を測定するための測定器です。ファイバー出力が付いたVTC 4000-200は、分光器による波長分析が行えます。
偏光制御の測定コンセプトが最高の精度を約束
VTC 4000の革新的な校正コンセプトは、フラットフィールド補正と偏光補正で成り立っています。偏光補正は、放射された光をインラインで分析することにより、光学系の偏光依存性を補正します。この校正により、カメラの視野内にある各ドット（発光点）の出力と偏光特性の絶対値がワンショットで測定できます。
このユニークな測定コンセプトは、出力測定におけるエラーバジェットを最小限に抑さえ、それを保証することで他のVCSEL測定システムでは達成できない高い測定精度を実現しています。
ドット（発光点）の超高速な品質管理
1つの2次元カメラ画像のみで、カメラの視野内にある複数の光スポットに対して出力と偏光を測定することができます。これにより、アレイの均質性の分析や、発散ドットの検出が可能になります。この超高速品質管理は、生産ラインの中で実施することも可能です。
ドット（発光点）の配光特性
また、VTC4000に搭載されているZ軸ユニットを用いることで、ドット（発光点）の配光特性を測定することができます。異なるZポジションでカメラ画像を複数撮影することにより、エミッションウエストを測定することができます。これにより、各ドットの発散角、開口数、M²値を算出することができます。
波長の決定
VTC 4000にはファイバー出力の付いたバージョンがあり、Instrument Systemsの高解像度分光器 HR-CASに接続することができます。これにより、画像中央にある発光点のスペクトル解析が可能になります。また、xy-ポジショニングユニットを使うことで、VCSELアレイすべてのドット（発光点）に対するスペクトル解析が行えます。
VTC 4000 - 主な特長
- ニアフィールドにおけるVCSELアレイの超高速2次元特性評価
- ファイバー出力タイプでは、高分解能分光器HR-CASを接続可能
- カメラの視野内にあるドット（発光点）の出力、偏光度/角度、位置を同時に解析
- ドット（発光点）の発散角、開口数、M²値、配光特性の個別評価
- 分光スペクトルの解析とピーク波長の検出（VTC 4000-200のみ）
- 12メガピクセルの高解像度カメラを搭載
- 波長範囲910～980 nmで校正
- ドイツ国立理工学研究所（PTB）にトレーサブルな工場校正による絶対値保証
- ソフトウエア開発キット（SDK）を用意
VTC 4000 – VCSELアレイのニアフィールド測定に最適なソリューション
VTC 4000は、VCSELアレイのニアフィールド解析用として開発されたもので、研究室だけでなく生産現場でも最適な測定ソリューションを提供します。
アプリケーションとしては、VCSELのあらゆる応用分野、特にスマートフォンの3Dセンシング（顔認識や物体認識）、および自動車産業（LiDARシステムなど）の評価があげられます。
VTC 4000を用いた測定ソリューションは、ドット（発光点）レベルでの分析と品質管理において、常に迅速かつ正確な結果を提供します。
