CAS 140CT-HR 面向激光器和 VCSEL 的高分辨率阵列光谱仪
VCSEL 测量系统
使用低至 0.12 nm 的光谱分辨率测定 VCSEL 特性
VCSEL 生产测试系统
脉冲 VCSEL 的完整特性测定
红外量测系统
快速而精确地测量2150 nm以下的红外发射器
VCSEL近场测量系统
灵活、精确的单发射器量测
VCSEL 远场测量系统
红外辐射源的灵活精准测试
CAS 140CT-HR – 最适合在实验室和生产中精准测量激光二极管
高分辨率 CAS 140CT-HR 光谱仪基于 Instrument Systems 成功的 CAS 140CT
系列阵列光谱仪。它专为评估窄带发射源（激光器/VCSEL）而开发，以较短的测量时间提供极高的光谱分辨率。
具有冷却性能的 CCD 探测器支持复杂的光谱测量，并且具有极短的光脉冲、低暗电流和低噪声。由于 CAS 140CT-HR 可延长积分时间，因此还适合测量极弱的光源。
和 Instrument Systems 的所有 CAS 型号一样，CAS 140CT-HR 也有 PTB 可追溯校准。USB 标准接口可通过 PCIe 接口使用，提供多种触发选项。用于暗测量的集成轮式密度滤光片和光圈可实现完全自动测量，同时确保探测器具有极高的动态范围。
Instrument Systems 的 SpecWinPro 软件可用于实验室的综合测量。此外，CAS 140CT-HR 型号还与 DLL 和 LabVIEW® 驱动程序兼容，可集成到定制程序和生产环境中。
CAS 140CT-HR – 产品特长：
- 高达 0.2 nm FWHM（0.08 nm 数据点间隔）的光谱解决方案
- 800-1000 nm 光谱范围内的测量范围通常宽 80、120 或 160 nm（可应要求提供 <800 nm 的更广泛的测量范围）
- 具有主动冷却性能的高端 CCD 探测器，可实现最高的测量灵敏度、动态范围和稳定性
- 集成轮式密度滤光片，可实现异常广泛的可测量强度范围
- USB 或 PCIe 接口，提供多种触发选项
- 用于实验室和生产应用的软件包
使用 CAS 140CT-HR 测量激光二极管的各种应用
随着消费电子（如面部识别）、汽车工业 (LiDAR) 和材料加工（高性能二极管激光）等新技术的发展，激光二极管正被广泛用于新的应用领域。Instrument Systems 的高分辨率光谱仪可保证在开发实验室和生产中进行快速精确的测量。
CAS 140 CT-HR 型号涵盖数个 800 至 1000 nm 的窄测量范围，因此适用于所有窄带光源的典型测量要求。
CAS 140CT-HR – 技术数据
可应要求提供定制测量范围（包括 800 nm 以下）。
