红外量测系统

快速而精确地测量2150 nm以下的红外发射器

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高精度的模块化测试系统

Instrument Systems的红外辐射测试系统采用模块化设计,可依据客户需求打造最合适的测量系统。既适用于实验室环境,也适用于自动化生产测试。我们的应用专家能为所有种类的红外发射器配置测量系统,以测量例如窄带光源,激光二极管/VCSELs,以及LED和其他宽度的发射器等。

我们的系统解决方案由以下器件构成:

  • 经校准的辐射测量设备
  • 可选电流源和待测物控温装置
  • 软件模块

关键特性:

  • 高测量精度,可弹性扩展的模块化设计
  • 宽光谱范围(200 – 2150 nm)
  • 可追溯至国家实验室的校准 (PTB 或 NIST)
  • 集成待測裝置的温度控制和电源供应
  • 脉冲发生器和脉冲测量(包括 µs 脉冲)

测量挑战

要精确测量窄带发射器—例如激光二极管和VCSEL—需使用具高光谱分辨率的光谱仪。为此应用,我们研发了涵盖近红外范围的CAS-HR系列光谱仪,其光谱分辨率可达到0.09纳米。此外,针对脉冲式红外发射器的量测需求,我们使用快速光电二极管来实现特别高的测量速度。对于宽带红外发射器的测量,则可选配具有宽光谱范围的光谱仪。

为精确表征红外发射器的特性,需测量其在不同电流和温度下的光输出。利用我们的红外测量系统,可以轻松控制电流源以及各种温度条件。  

系统配置

用于测定红外发射器特性的标准系统包括:

部件 描述

光谱仪

CAS 系列 (200-1100 nm) 或
CAS IR 系列 (780-2150 nm) 或
CAS-HR 系列 (800-1000 nm)
另有其他高分辨率版本的CAS IR 红外系列,更多信息请联系我们 (例如 1310 nm-1440 nm; 光学分辨率 <1 nm版本)

光度计(可选)

  • 用于功率测量,经校准的光电二极管 (800-1000 nm)
  • 可选:用于功率测量,经校准的光电二极管 (800-1650 nm)
  • 脉冲的时间分辨率测量 (>1 µs)

测量转接头 / 配件

  • ISP 系列积分球
  • EOP 系列辐照度光学探头
  • LEDxx 光强探头
  • TOP 系列辐照度探头
  • LEDGON 及LGS 系列配光测角仪

校准

校准可追溯至PTB 或 NIST等国家标准

软件

  • SpecWin Pro/Light 实验室软件模块
  • 光谱仪 SDK (CAS-DLL), 可集成至生产制程中

电流源
(可选)

  • Keithley 24xx/26xx 电流源
  • Vektrex SpikeSafe SMU
  • 恒定或脉冲式电流 (>1µs)

温度控制
(可选)

  • Arroyo TEC source/mounts
  • 温度范围: 15-150 °C

LED 校准标准 / 查核标准 (可选)

  • ACS-570-15/-17 (860 nm 及960 nm)
  • 可选: IR ACS (1200 nm, 1300 nm, 1450 nm)

客制化系统配置

Instrument Systems的红外测量系统解决方案具备高度灵活性,有各式高精度光谱仪、光度计及丰富配件可供选择,非常适合用于开产品发或生产制程中。

我们的光学量测专家乐意为您的特殊应用提供实用建议。若您有任何关于红外发射器产品测量的问题,欢迎随时和我们联系,从我们的团队获得解决方案。