杂散光校正 用于减少光谱中的杂散光的校正矩阵
蓝光危害测量
依据 IEC 62471 和 IEC/TR 62778 标准测定蓝光危害
DMS 显示屏测量系统
用于角度分析显示屏特征测定的一体化解决方案
DTS 显示屏测量系统
基于 CAS 140D 的光谱辐射显示屏测试系统
LED / SSL 测量系统
利用积分球测定光通量和色度
LEDGON 测角仪系统
遮光 LED 测试系统 - 完整紧凑
LGS 测角仪系统
测定 SSL 光源的空间辐射特性
LumiTop 显示屏生产测试
用于生产线质量控制的一体化解决方案
NVIS 显示屏测量系统
测量符合 MIL-L-85762A / MIL-STD-3009 和民用标准 SAE AS5452B / RTCA DO 275
UV-LED 测量系统
实验室中灵敏精准的 200 nm 以上 UV 测量
阵列光谱仪如何达到近似于双单色仪的杂散光水平？
阵列光谱仪最重要的光度和辐射性能限制是仪器中的杂散光入射。换言之，阵列探测器的特定元件会受到非指定光谱的辐射的污染。在 Instrument Systems 强大的 CAS 系列阵列光谱仪中，通过设计方法有效地抑制了杂散光，因此从一开始污染就很低。
NIST 校正方法
根据 NIST 方法，剩余的杂散光可以通过可调谐激光器来校正。主要思路是激光线的单色辐射在很大程度上可以分配给探测器的特定像素。
对于该波长而言，带通函数之外测得的所有光都是该像素产生的杂散光，可以从探测器中的所有其他像素中看到。在所有激发波长上检测到的总光谱最终产生一个特定于设备的矩阵。如果减去实信号的带通函数，结果就是杂散光矩阵。
杂散光矫正 CAS 140D – 具有最高光学动力和准确性的阵列光谱仪
在校准过程中使用杂散光校正矩阵（可选），可进一步优化 CAS 140D 原本就极其出色的杂散光值。因此，该测量仪器非常适合 UV-LED 的精确测量和光源危害等级的测定（光生物安全）等。
UV、IR 和蓝光范围中 LED 的精确辐射测定
杂散光校正对光谱的影响在 UV 和 IR 光谱范围中最为突出，因为阵列光谱仪的 CCD 探测器的边缘灵敏度很低。将测得的光谱除以参考光谱会增加杂散光污染光谱导致的测量误差，特别是在灵敏度较低的区域。因此，杂散光校正可以直接提高辐射评估的准确性，特别是 UV-LED。
杂散光校正也提高了在可见范围内测定色坐标的准确性。从杂散光校正中特别受益的一个应用是在光生物安全方面评估蓝光对人眼的危害。
