News-Portal: Instrument Systems

News

11.03.2021

AMS Screen-Imaging-System auf der SIA VISION

Treffen Sie uns auf der SIA VISION International Conference, 17.-18. März 2021.

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Messen

SID Display Week 2021

Datum: 17.05.2021 – 21.05.2021
Ort: Virtuelles Event

Gemeinschaftsstand mit Konica Minolta Sensing US

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Fachartikel

02.03.2021

Growth in OLED Lighting Demands New Metrological Traceability

Englischer Artikel von Dr. Tobias Schneider

The rapidly emerging dominance of OLED technology for illumination and display applications is driving demand for a metrology tailored to these light sources.

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Fachvorträge

Color Uniformity of µLED Displays: New Color Calibration Concept for Fast and Accurate Optical Testing

Datum: 21.05.2021

Dr. Tobias Steinel

Ort: Display Week 2021 Virtual Conference

Superior properties of µLEDs for display applications challenge metrology with, e.g, narrow emission bandwidth and enormous wavelength variability depending on their electronic driving parameters. Therefore, we developed new imaging test solutions to make color uniformity measurements fast and highly accurate even for strongly varying spectral properties of µLEDs.

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Pressemitteilungen

16.03.2021

Short-Pulse-Testing für temperatur-sensitive High-Power-LEDs

Für die Ausführung von Short-Pulse-Messungen sind Spektralradiometer mit minimalen Messzeiten im Mikrosekunden-Bereich und präzisem Trigger erforderlich. Instrument Systems hat deshalb das neue Spektralradiometer CAS 125 mit CMOS-Sensor und eigens entwickelter Ausleseelektronik konzipiert. In Entwicklung und Produktion wird damit eine deutlich präzisere Charakterisierung von LEDs mit hoher Stromdichte oder hoher Leuchtdichte sowie von High-Power-LEDs mit verringerter Wärmeableitung erzielt.

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