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Electronica 2020 – Erkunden Sie unsere aktuellen Top-Themen!

02.11.2020

Instrument Systems stellt Top-Themen für die Electronica dieses Jahr virtuell vor.

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Messen

DVN Workshop conference & expo

Tokio
02.12.2020 - 02.12.2020

Vortrag: 17:15 (CET)
Sprecher: Dr. Hassan Gargouri
Thema: Methods to measure the luminous color of white and colored LEDs

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Fachartikel

UV LED sources demand calibration to precise measurements for safe operation

Englischer Artikel von Bastian Eder und Denan Konjhodzic
14.09.2020

The authors summarize a UV-LED calibration concept that relies upon radiant flux, and emphasize the advantages for developing measurement standards in the increasingly important UV spectral range. The extremely low measurement uncertainties (k=2) of the UV-ACS are comparably low to those in the metrologically unproblematic visible range, thereby offering a reliable resource for radiant flux calibration in the UV-A, UV-B, and UV-C ranges.

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Fachvorträge

Methods to measure the luminous color of white and colored LEDs

Dr. Hassan Gargouri
DVN Tokio 2020

Datum: 2. Dezember, 2020

Zeit: 17:15 (CET)

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Pressemitteilungen

Vollständige optische Waferprüfung für μLEDs an einer Teststation

07.07.2020

Instrument Systems bietet für μLED-Wafertesting eine einzigartige kamerabasierte Messlösung an, die 2-dimensional, pixelgenau und innerhalb vorgegebener Taktzeiten optische Analysen erstellt. Die LumiTop 4000 besitzt eine 12 MP Auflösung und detektiert kleinste Defekte und Inhomogenitäten auf dem Wafer. Dank 100 mm Makro-Objektiv ermöglicht die Kamera eine schnelle parallele Inline-Analyse aller μLEDs auf einem Wafer in einer einzigen Teststation.

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