日

English Deutsch 简体中文 (CN) 日本語 (JP) 한국어 (KR)

ニュースポータル

ニュース

News

Instrument Systems、MicroLED-Infoのインタビューに登場

MicroLED-Infoによる最新インタビューでは、Instrument SystemsのCEOであるDr. Marc LünnemannとプロダクトマネージャーのDr. Tobias Steinelが、光・色計測の今後について語っています。

ニュース一覧へ

イベント

Events

EPIC Technology Meeting on Photonics for AR

日付: 2026/10/13 – 2026/10/14
場所: Milan, Italy

ミラノで開催されるEPIC Technology Meeting on Photonics for ARにInstrument Systemsが参加します！Dr. Sascha Reinhardtが、周囲光がARグラスの仮想画像品質に与える影響について講演します。

イベント一覧へ

技術記事

Article

High Accuracy Optical Metrology for MicroLED Displays and Wafers

MicroLED mass production demands both speed and accuracy. In this article, Dr. Tobias Steinel presents a novel metrology approach that merges high-resolution…

技術記事一覧へ

講演

Talk

ARグラスの仮想画像品質に及ぼす環境光の影響

日付: 2026/10/13 – 2026/10/13, 17:00 (CEST)

Dr. Sascha Reinhardt

場所: イタリア・ミラノ

講演一覧へ

プレスリリース

Press

Instrument Systems expands NVIS display measurement portfolio according to MIL-STD-3009

Instrument Systems presents its portfolio of measurement solutions for night-vision-compatible lighting and displays according to MIL-STD-3009. These solutions…

プレスリリース一覧へ

Newsletter

Letter

MicroLED Insights, Color Measurement Updates & Upcoming Events

From new perspectives on MicroLED metrology to more precise color evaluation, discover the latest insights and developments from Instrument Systems. Watch our…

Newsletter Registration