光学探头 用于测量光度量的最佳配件
EOP – 用于测量辐照度的光学探头
Instrument Systems 提供一系列用于测量辐照度和通用辐射耦合的 EOP。这些 EOP 的主要差别在于光吞吐量、余弦修正度数和光谱范围。所有 EOP 光学探头都包含一个用于散射入射光的漫射器。在漫射器的后面是光纤的进口面，光通过它耦合到光谱仪。
应用
对于一般应用，建议使用光学探头 EOP 120 和 EOP 121（横向纤维束连接器），因为它们可以在好的余弦修正和好的光吞吐量之间实现最佳折衷。
需要好至极好的余弦修正来测量扩展光源，尽管这总是以光吞吐量为代价。光学探头 EOP-146 适合此用途。
光学探头 EOP 140 仅适用于需要高光吞吐量的应用。型号 EOP 542 适用于固定视场 (5.7º) 测量，主要用于测量直射阳光。
Instrument Systems 提供积分球 ISP 40，可以广泛的光谱范围实现最优化的余弦修正。由于球的积分效应，无论光束收敛还是发散都会捕获整个光束，并通过光纤束与光谱仪耦合。
产品类型
TOP 200 –用于辐射和亮度测量的光学探头
TOP 200 光学探头基于普里查德式光学设计，带有集成式取景相机。
产品特长：
- 普里查德式光学设计配有倾斜度仅 15º 的孔镜，可以提供非常圆的清晰图像点
- 光纤的灵活连接和获取可重现读数的专利模式混合器，以及极低的偏振灵敏度
- 可通过软件选择的 6 种测量点大小
- 具有宽视场的内部取景相机
- 最小的测量点：80 µm
- 测试对象的可选照明
TOP 150 是具有单孔径的低成本替代产品。
测量应用
测得的辐射强度由 TOP 200 通过多模光纤耦合到光谱仪中。Instrument Systems 的专利模式混合器可确保光纤中的光透射均匀，即使光纤位置改变，也可产生可重现读数。
普里查德原则支持在测量过程中观察视场，并监控视场进行准确定位。取景相机的图像由 SpecWin Pro 软件自动导入并与读数一起保存。
产品类型
LED 4xx – 光强度测量套筒
Instrument Systems 开发了各种用于测定 LED 平均光强度 ILED-B [cd] 的测量套筒。这些套筒视可用光谱范围（仅可见或 UV）、测量几何结构和计划的应用（实验室或生产）而异。
测量套筒包含一个形成正好 1 cm² 灵敏探测器表面的漫射器。在漫射器的后面是光纤束，光束通过它耦合到光谱仪中。此设计的特点是高光吞吐量和探测器表面足够的同质性。因此，LED-4xx 系列测量套筒特别适合低光 LED，并用于快速生产测试。
测量应用
LED 4xx 测量套筒可接受 LED 5xx、LED 6xx 和 LED 81x 系列的所有测试夹具。夹紧机构可始终确保 LED 的可重现且精确对准。缩短版测量套筒可用于生产（例如，用于安装在 LED 处理机上）。
对于需要最高精度的应用，开发了光学探头 LED 25，用于根据 CIE 127 测定“平均 LED 强度”。后者基于积分球，因此即使光吞吐量减少，也会在整个探测器表面提供同质光敏度。
产品种类
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