光谱仪软件开发工具包 Instrument Systems 光谱仪编程接口
蓝光危害测量
依据 IEC 62471 和 IEC/TR 62778 标准测定蓝光危害
DMS 显示屏测量系统
用于角度分析显示屏特征测定的一体化解决方案
DTS 显示屏测量系统
基于 CAS 140D 的光谱辐射显示屏测试系统
LED / SSL 测量系统
利用积分球测定光通量和色度
LEDGON 测角仪系统
遮光 LED 测试系统 - 完整紧凑
LGS 测角仪系统
测定 SSL 光源的空间辐射特性
LumiTop 显示屏生产测试
用于生产线质量控制的一体化解决方案
NVIS 显示屏测量系统
测量符合 MIL-L-85762A / MIL-STD-3009 和民用标准 SAE AS5452B / RTCA DO 275
UV-LED 测量系统
实验室中灵敏精准的 200 nm 以上 UV 测量
VCSEL 测量系统
使用低至 0.12 nm 的光谱分辨率测定 VCSEL 特性
VCSEL 生产测试系统
脉冲 VCSEL 的完整特性测定
红外量测系统
快速精确地测量红外发射器，如LED和激光器
DGS Display Goniometer System
Motorized, goniometric display characterization
用于将光谱仪集成到现有软件中的开发工具
Instrument Systems 为 LabVIEW 提供设备 DLL 和驱动程序，用于从您自己的程序控制光谱仪。这将使您能够按照自己的测量程序控制光谱仪，并将其与其他设备一起操作。
除 Windows DLL 外，SDK 还随附了全面文档，包括采用各种编程语言的示例程序。用于 LabVIEW VI 的驱动程序作为选项提供。
面向程序员的开发工具
设备 DLL 允许直接控制所有光谱仪功能并捕获光谱和由此派生的所有结果。库中包含计算辐射、光度和色度值所需的全部功能。
除了更复杂的计算，如色坐标（CIE1931、CIE1960、CIE1976）和显色指数（CIE13.3.95、DIN6169、TM30-15）函数，MultiTrack 或 Auto-Range 等功能也可用于轻松高效地控制生产和实验室中的广泛测量任务。
此外，通过监控传感器温度和光谱仪状态，可增强流程的可靠性。
LabVIEW 驱动程序对应于相应设备 DLL 的扩展，并使其功能以 LabVIEW VI 的形式提供。
为了方便快速入门编程，除了全面文档外，还有许多通用编程语言的代码示例和用于 LabVIEW 实施的示例 VI。
产品特长
- 对光谱仪界面进行编程
- 计算辐射、光度和色度量
- 自动暗电流测量
- Auto-Range 功能
- 参数集定义
- 用于超快速捕获光谱的 MultiTrack 功能
- 状态监控
- 透射测量性能
