NVIS 显示屏测量系统

符合 MIL-L-85762A/MIL-L-STD-3009 标准的测量

Loading
Loading Loading

使用夜视设备评估显示屏兼容性、亮度和背光开关

Instrument Systems 推出的 CAS 140D 阵列光谱仪在全球范围内取得成功,基于该系列开发了 DTS 140D NVIS 显示屏测试系统,用于依照 MIL-L-85762A 和 MIL-STD-3009 测试显示屏和面板。该测量系统的一个重要部件是 TOP 200 光学探头,通过该探头可进行辐射耦合。

得益于可靠的阵列光谱仪技术,DTS 140D NVIS 特别适用于需要长期可靠性和简单操作的生产和质量保证应用。SpecWin Pro 软件的通过/不合格测试功能支持实施自动化测量。通过 Windows-DLL 即可进行简单的集成。

关键特性:

  • 系统经过 MIL-L-85762A/MIL-STD-3009 认证;也经过 MIL-P-7788F 和 SAE ARP5825 认证
  • 特殊滤光片可产生此应用所需的极高光学动态范围
  • 优化的普里查德式光学可保证完美自动定位和记录测量点
  • 具有宽视场和报告输出的集成式校准摄像机
  • 方便对读数进行通过/不合格分析和记录的 SpecWin Pro 软件
  • 用于客户控制的 Windows-DLL 和 LabView 驱动程序

夜视设备的测量挑战

准确识别 380 到 600 nm 左右可见光谱范围和高达 1000 nm 左右近红外范围(NVG 夜视设备的灵敏度范围)之间的显著强度差异对于 NVIS 测量至关重要。为此,Instrument Systems 修改了 CAS 140 系列,以进一步减少光谱仪中的杂散光并自动将测量灵敏度调整为不同的强度。DTS 140 NVIS 随附证书,证明已通过符合 MIL-L-85762A/MIL-STD-3009 标准的俗称的 MIL 测试。

系统配置

用于辐射和亮度测量的一体化系统 DTS140D NVIS 通常包含以下部件:

部件描述

光谱仪

光谱范围为 380-1040 nm 的 CAS 140D153U1I (VIS-NIR)。

光学探头和镜头

用于 4 种测量点大小的带机动孔径轮的 TOP 200 光学探头,具有 752 x 480 像素分辨率的集成式校准摄像头和 HRL90 镜头。提供更多焦距选择。

校准

光谱辐射和亮度校准,可追溯至国家标准 PTB 或 NIST。包括 MIL 证书。

软件

SpecWin Pro 实验室软件,具有各种功能和特殊 NVIS 评估模块。

杂散光矩阵(可选,不属于 MIL 测试必需配置)

杂散光矩阵(可选,不属于 MIL 测试必需配置)

辐照度光学探头(可选)

用于依据 SAE ARP5825(外部照明 NVIS 友好型)标准进行测量

定位器(可选)

手动或全自动定位器/测角仪,例如 DTS 500

广泛配件

由于可搭配丰富的可选配件,Instrument Systems 的这个高度灵活的系统解决方案非常适合用于显示屏的开发过程、质量控制和生产。

客制化系统配置

我们的系统专家将很乐意为您的特殊应用提供实用建议。我们提供全球服务,可保证在系统的整个生命周期内提供快速设置和全面支持。敬请垂询!