NVISディスプレイ測定 MIL-L-85762A / MIL-L-STD-3009に準拠した測定


ディスプレイ、照明器具、バックライトスイッチなど暗視装置の適合評価
世界的に評価の高いCAS140Dアレイ分光器に基づくディスプレイテストシステムDTS140DNVISは、MIL-L-85762AおよびMIL-STD-3009に従って、ディスプレイおよびパネル用にInstrumentSystemsによって開発されました。測定システムの重要なコンポーネントはTOP200望遠光学プローブです。
堅牢なアレイ分光器技術のおかげで、DTS 140D NVISは、長期的な信頼性と簡単な操作を必要とする生産および品質保証のアプリケーションに特に適しています。SpecWinProソフトウェアの合否判定機能で自動判別できます。 またWindows-DLLを介して簡単なシステム統合が可能です。
主な機能:
- MIL-L-85762A / MIL-STD-3009に準拠したシステム。 MIL-P-7788FおよびSAEARP5825にも対応
- 特殊フィルターにより、このアプリケーションに必要な非常に広い光学ダイナミックレンジが得られます
- 最適化されたプリチャード光学系により、測定スポットの完全な自動位置決めと文書化ができます
- 内蔵カメラにより測定視野域と測定スポットがレポートに記録できます
- SpecWinProソフトウェアの便利な合否判定機能とレポート機能
- お客様システム統合のためのWindows-DLLおよびLabViewドライバー
暗視装置の要件
可視スペクトル範囲間(380から約600nm)と約1000 nm(NVG暗視装置の感度範囲)までの近赤外線範囲の高精度な測定が、NVIS測定にとって重要です。このため、InstrumentSystemsはCAS140シリーズを改良して、分光器の迷光をさらに減らし、さまざまな強度に合わせて自動調整機能を開発しました。 DTS 140 NVISには、MIL-L-85762A / MIL-STD-3009に準拠したMILテストに合格した証明書を発行しています。
システム構成
放射輝度および輝度測定用のオールインワンシステムDTS140DNVISは、通常、次のコンポーネントで構成されています。
幅広いアクセサリが利用可能
オプションのアクセサリが豊富に用意されているため、Instrument Systemsの非常に柔軟なシステムソリューションは、ディスプレイの開発プロセス、品質管理、および生産に最適です。
個別の構成
お客様の特定のアプリケーションについて、弊社のシステム専門家が適切なアドバイスを提供します。弊社のグローバルサービスは、迅速なセットアップと、システムの全寿命にわたる完全なサポートを保証します。最適なソリューションを一緒に見つけましょう。








