CAS 140D

高精度、快速阵列光谱仪 – 面向高要求测量

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CAS 140D – 高精度光测量的全球公认标准

Instrument Systems 的最新高端 CAS 140D 阵列光谱仪被视为弱光源和高辐射度的高精度光谱光测量技术的基准。

该产品基于久经考验的交叉 Czerny-Turner 光谱仪并配备具有冷却性能的 CCD 探测器,具有以下特色

  • 最高的测量准确度和杂散光抑制
  • 再现性和稳定性
  • 极短的积分时间

CAS 140D 的应用范围从国家校准实验室的标准仪器到生产中的 24/7-Dauermessung。Instrument Systems 的一个特定质量属性是可追溯至 PTB NIST 的校准,我们所有的光谱仪都配备该校准功能。

与广泛的配件搭配组合,可以将光谱仪升级为一体化系统,适用于各种光谱辐射和光度测量任务。

在校准过程中使用杂散光校正矩阵运算(可选),可进一步降低 CAS 140D 原本就极其出色的杂散光值。因此,该测量仪器也非常适合 UV-LED 的精准测量和 LED 光源危害等级(光生物安全)的测定。

CAS 140D – 产品特长:

  • 作为标准仪器在全球使用
  • 200 – 1100nm 都有相应型号
  • 具有冷却性能的“薄型背照式”探测器,用于最小暗电流
  • 具有最强杂散光抑制的光谱仪
  • 4 ms 至 65 s 的积分时间
  • 配件自动识别
  • 综合性 SpecWin Pro 光谱软件
  • 高精度测量关联色温 (CCT) 和显色指数 (CRI)
  • 标准色度坐标上仅 ±0.0015 的可追溯测量不确定性
  • 额外杂散光校正(可选)

面向 LED、照明设备或显示屏的一体化系统

CAS 140D 是 Instrument Systems 系统解决方案中的重要测量仪器。辅以功能强大的软件包(SpecWinPro、LumiSuite)、积分球、测角仪、图像色度测量仪和广泛配件,我们针对任何测量挑战提供最合适的一体化系统,按照您行业的当前标准量身定制。

无论是需要对个别 LED、UV-LED、VCSEL、SSL 产品执行辐射或光度测量,还是需要评估基于 LED、OLED 或 µLED 的显示屏 – CAS 140D 适用于所有想得到的光度应用以及最新实验室和生产挑战。

CAS 140D – 技术数据

型号

UV/VIS

UV/VIS/NIR

VIS

VIS/NIR

光谱范围

200-830 nm

220-1020 nm

300-1100 nm

360-830 nm

380-1040 nm

光谱分辨率
(100 µm 狭缝)

3.0 nm

3.7 nm

2.2 nm

3.0 nm

数据点间隔

0.65 nm

0.8 nm

0.5 nm

0.65 nm

LED 的杂散光

1·10-4

1·10-4

1·10-4

1·10-4

波长测量精度

±0.2 nm

±0.2 nm

±0.2 nm

±0.2 nm

详细测量条件请参看数据表及产品手册,或联系 Instrument Systems。

根据配件的不同,可扩大测量范围。请联系我们的测量专家为您服务!