CAS 140D 高精度、快速阵列光谱仪 – 面向高要求测量

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CAS 140D – 高精度光测量的全球公认标准

Instrument Systems 的高端 CAS 140D 阵列光谱仪被视为高精度光谱光测量技术的基准仪器,适用范围涵盖低到高辐射度光源。

该产品基于久经考验的交叉 Czerny-Turner 光谱仪,并配备具有冷却性能的 CCD 探测器,具有以下特长

  • 最高的测量准确度和杂散光抑制
  • 再现性和稳定性
  • 极短的积分时间

CAS 140D 的应用领域从作为国家校准实验室的标准仪器,到24/7的产线检测仪器。此外,Instrument Systems 所有的光谱仪都有可追溯至 PTB NIST 的校准。

与广泛的配件搭配组合,可以将光谱仪升级为一体化系统,适用于各种光谱辐射和光度测量任务。

在校准过程中使用杂散光校正矩阵运算(可选),可进一步降低 CAS 140D 原本就极其出色的杂散光值。因此,该测量仪器也非常适合 UV-LED 的精准测量和 LED 光源危害等级(光生物安全)的测定。

High-performance for wavelengths in infrared

Instrument Systems' latest CAS 140D IR1 spectroradiometer for measurements in the SWIR (short-wave infrared) wavelength range also offers the proven high measurement accuracy and reliability of the CAS140D series. Compared to its predecessor, the CAS 140D for wavelengths of 780–1700 nm has a significantly better performance in signal sensitivity, stray light suppression and electronics.

More about our IR models

CAS 140D – 产品特长:

  • 作为标准仪器在全球使用
  • 200 – 1100nm 都有相应型号
  • 具有冷却性能的“薄型背照式”探测器,用于最小暗电流
  • 具有最强杂散光抑制的光谱仪
  • 4 ms 至 65 s 的积分时间
  • 配件自动识别
  • 综合性 SpecWin Pro 光谱软件
  • 高精度测量关联色温 (CCT) 和显色指数 (CRI)
  • 标准色度坐标上仅 ±0.0015 的可追溯测量不确定性
  • 额外杂散光校正(可选)

面向 LED、照明设备或显示屏的一体化系统

CAS 140D 是 Instrument Systems 系统解决方案中的重要测量仪器。辅以功能强大的软件包(SpecWinPro、LumiSuite)、积分球、测角仪、图像色度测量仪和广泛配件,我们针对任何测量挑战提供最合适的一体化系统,按照您行业的当前标准量身定制。

无论是需要对个别 LED、UV-LED、VCSEL、SSL 产品执行辐射或光度测量,还是需要评估基于 LED、OLED 或 µLED 的显示屏 – CAS 140D 适用于所有想得到的光度应用以及最新实验室和生产挑战。

CAS 140D – 技术数据

型号

UV/VIS

UV/VIS/NIR

VIS

VIS/NIR

光谱范围

200-830 nm

220-1020 nm

300-1100 nm

360-830 nm

380-1040 nm

光谱分辨率
(100 µm 狭缝)

3.0 nm

3.7 nm

2.2 nm

3.0 nm

数据点间隔

0.65 nm

0.8 nm

0.5 nm

0.65 nm

LED 的杂散光

1·10-4

1·10-4

1·10-4

1·10-4

波长测量精度

±0.2 nm

±0.2 nm

±0.2 nm

±0.2 nm

详细测量条件请参看数据表及产品手册,或联系 Instrument Systems。

根据配件的不同,可扩大测量范围。请联系我们的测量专家为您服务!