CAS 140D 高精度・高速アレイ分光器 - 要求の厳しい測定に対応

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CAS 140D – 世界的に確立された高精度分光計測の基準

Instrument Systemsの最新ハイエンドCAS 140Dアレイ分光器は、微弱な光源と高い放射強度の両方において、高精度の分光光測定技術のベンチマークとして注目されています。

実績のあるクロス・ツェルニー・ターナー型の分光器をベースに、冷却CCD検出器を搭載し、以下のような特徴を持っています。

  • 最高の測定精度と迷光のダブルモノクロメータレベルへの低減
  • 再現性と安定性
  • 極めて短い統合時間

CAS 140Dの用途は、国立の校正機関での基準装置から、生産現場での24時間体制の監視まで多岐にわたります。Instrument Systems特別品質特性ドイツ国立物理工学研究所PTBおよびアメリカ国立標準技術研究所(NISTにトレーサブルな校正でありすべての分光器装備されています

豊富なアクセサリーにより、分光器をオールインワンシステムにアップグレードすることができ、様々な分光測定や測光計の測定タスクに対応します。

校正時に迷光補正を使用すると(オプション)、CAS 140Dの非常に優れた迷光値がさらに低減されます。この測定器は、 UV-LEDの正確な測定 や、 LED光源のハザードクラス (光生物学的安全性)の判定にも最適です。

High-performance for wavelengths in infrared

Instrument Systems' latest CAS 140D IR1 spectroradiometer for measurements in the SWIR (short-wave infrared) wavelength range also offers the proven high measurement accuracy and reliability of the CAS140D series. Compared to its predecessor, the CAS 140D for wavelengths of 780–1700 nm has a significantly better performance in signal sensitivity, stray light suppression and electronics.

More about our IR models

CAS 140D – 製品詳細

  • 世界中でリファレンス機器として使用されている
  • 200~1100 nmのモデルバリエーション
  • 暗電流を最小化するための冷却された 裏面照射型検出器
  • 迷光を最大限に抑制した分光光学系
  • 積算時間:4ms~65s
  • アクセサリーの自動認識
  • 豊富なスペクトルソフトウェア「SpecWin Pro」
  • 相関色温度(CCT)と演色評価数(CRI)を高精度に測定。
  • 標準色度座標系において、わずか±0.0015のトレーサブルな測定不確かさ。
  • 迷光の追加補正(オプション)

LED、照明器具、ディスプレイのあらゆる(新しい)測定シナリオに対応するオールインワンシステム

CAS 140Dは、Instrument Systemsのシステムソリューションにおける主要な測定器です。強力なソフトウェアパッケージ(SpecWinPro、LumiSuite)、積分球、ゴニオメーター、イメージング測色計、および包括的なアクセサリーを使用することで、あらゆる測定課題に最適なオールインワンシステムを提供し、お客様の業界の標準測定規格に対応した方法を実現することができます。

個々のLED、UV-LED、VCSEL、SSL製品のラジオメトリック測定やフォトメトリック測定、あるいはLED、OLED、µLEDSをベースにしたディスプレイの評価など、CAS 140Dは考えられるすべてのフォトメトリック用途に適しており、ラボや製造現場における最新の課題に対応しています。

CAS 140D – テクニカルデータ

モデルバリエーション

UV/VIS

UV/VIS/NIR

VIS

VIS/NIR

スペクトルの範囲

200-830 nm

220-1020 nm

300-1100 nm

360-830 nm

380-1040 nm

分光分解能(100 µm slit)

3.0 nm

3.7 nm

2.2 nm

3.0 nm

データポイントの間隔

0.65 nm

0.8 nm

0.5 nm

0.65 nm

LED用迷光

1·10-4

1·10-4

1·10-4

1·10-4

波長測定精度

±0.2 nm

±0.2 nm

±0.2 nm

±0.2 nm

指定された値が決定された詳細な測定条件は、データシートやパンフレットで調べるか、Instrument Systemsに請求することができます。

付属品によってはさらに広い測定範囲が可能です。専門家のアドバイスを受けてください。