IR 測定 2150 nmまでのLED/レーザーダイオードなどのIR光源を高速かつ正確に測定

高精度のテストシステム

Instrument SystemsのIR光源テストシステムはお客様の測定目的に合わせてアクセサリを組み替え個別にカスタマイズすることができます。これは実験室でのテストでも、生産ラインでも同様です。Instrument Systemsのアプリケーションエキスパートは、レーザーダイオード/VCSEL、LEDなどの狭帯域光源とその他の広帯域光源の両方を測定するために、可能なすべてのIR光源用にシステムを構成します。

システムソリューションは、以下のコンポーネントで構成されています。

校正された放射測定器
オプションで電源およびDUTの温度制御系
ソフトウェアモジュール

主な特徴：

高い測定精度
幅広いスペクトルレンジ（200～2150 nm）
高い波長分解能 (0.09 nmまで)
国立標準機関（PTBまたはNIST）にトレーサブルな校正
DUTの温度や電源を制御する機能
パルス発生器とパルス測定（µsパルスまで対応可能）

要求事項

レーザーダイオードやVCSELなどの狭帯域な光源を正確に測定するためには、高い波長分解能を持つ分光器が必要です。そこで、近赤外領域をカバーし、0.09 nmまでの分光分解能を実現したCAS-HRシリーズをご用意しました。パルス状のIR光源では、高速フォトダイオードを用いた測定の速さも重要です。一方、より広帯域のIR光源の測定には、広い波長範囲をカバーする分光器が必要となります。

IR光源の特性評価のためには、異なる電流や温度で光出力を測定する必要があります。弊社のIR測定システムは、様々な異なる電源と温度を制御することが可能です。

システム構成

IR光源の特性評価のための完全なシステムは、通常、次のコンポーネントで構成されます。

構成要素	説明
分光器	CASシリーズ（200-1100 nm）または CAS IRシリーズ（780-2150 nm）または CAS-HRシリーズ（800-1000 nm）ご要望に応じて：CAS IRシリーズ：1310 nm〜1440nmなどのいくつかの高解像度オプション。光学分解能<1nm
フォトメーター（オプション）	校正されたフォトダイオードによるパワー測定（800-1000 nm）ご要望に応じて：校正済みフォトダイオードを用いたパワー計測 (800-1650 nm) パルスの時間分解測定（> 1 µs）
測定アダプタ／アクセサリ	ISPシリーズ積分球 EOPシリーズ放射照度プローブ LEDxx光ダイオードアダプター TOPシリーズラジアンスプローブ LEDGONおよびLGSシリーズゴニオメーター
校正	PTBやNISTなどの国家標準にトレーサブルな校正。
ソフトウェア	SpecWin Pro/Lightラボ・ソフトウェア・モジュール分光器SDK (CAS-DLL) 本番テストへの組み込み用
電源（オプション）	Keithley 24xx/26xx SourceMeter Vektrex SpikeSafe SMU 定電流またはパルス（1µs以上）の電流
温度制御（オプション）	Arroyo TEC ース/マウント温度範囲：15-150 °C
リファレンスLED / 監査用光源（オプション）	ACS-570-15/-17 (860 nm および 960 nm) ご要望に応じて：IR ACS (1200 nm, 1300 nm, 1450 nm)