フラットパネルディスプレイ生産

ディスプレイ生産における迅速かつ正確な光学テスト

信頼性の高いインライン品質管理により、鮮やかなディスプレイを実現

フラットパネルディスプレイは、スマートフォンやテレビなど、多くの電子機器に欠かせない部品です。ディスプレイの品質は、重要なセールスポイントの一つです。そのため、生産ラインにおけるディスプレイの品質管理は非常に重要です。人間の目にとって重要なパラメータを正確かつ迅速に測定することは、ディスプレイメーカーにとって重要な成功要因となります。

ディスプレイのインライン品質管理のための重要なテスト変数には以下のものがあります:

  • CIE 1931 輝度 Lv
  • CIE 1931 の色座標xおよびy
  • 横方向の均一性、ガンマカーブ、色空間、白色点など

課題:OLEDやMicroLED技術に対するテスト要求の高まり

有機EL(OLED)やMicroLEDのような革新的な技術は、色の高彩度化、高解像度化、より柔軟な形状など、ディスプレイの継続的な改善につながっています。その結果、生産中のディスプレイの品質管理のための光学検査に対する要求がますます厳しくなっています。

最先端のディスプレイの絶え間なく高まる品質要求を保証するために、測定器は厳しい仕様を満たさなければなりません。100%の品質管理のためには、信頼性が高く高精度な光測定器を用いた革新的な測定ソリューションが必要であり、解像度はますます高くなっています。同時に、ディスプレイを低コストで生産するために必要な要素もあります。

  • 短い測定時間
  • 24時間365日の稼働
  • 温度、埃、湿度などの厳しい生産環境での安定性

弊社のソリューション:分光特性が最適化されたInstrument Systems社のLumiTopテストシステムとユニバーサルなDTS 140ディスプレイテストシステム

LumiTop テストシステムは、最高の測定精度と、生産ラインに不可欠なスピードと堅牢性を兼ね備えています。あらゆる生産環境に簡単に組み込むことができ、世界中の主要なディスプレイメーカーで多数使用されています。

ディスプレイデバイス(OLED、LCD、QD-LCD、MicroLEDなど)を問わず、LumiTopシステムは、例えばディスプレイの均一性、ピクセルの欠陥(ムラ)、ガンマなどを測定することができます。これは、ハイエンドのCAS 140D分光放射計、高解像度イメージング測色計、フォトダイオードのつのセンサーを1つのシステムに統合した革新的なコンセプトで実現しました。

Instrument Systems社は、ディスプレイをピクセル単位で正確に分析するために、カラーチャンネルあたり最大600MPの異なる解像度を持つ複数のLumiTopモデルも提供しています (LumiTop X150)。

汎用性の高い DTS140 ディスプレイテストシステムは、品質管理や研究室での基準機として使用されています。このシステムは、CAS 140シリーズのハイエンド分光器とTOP 200光学プローブの構成です。このシステムでは、ディスプレイの小さな特徴や領域を最高の精度で測定・分析することができます。また、用途、ディスプレイサイズに合わせたさまざまなレンズとアパーチャ・ホイールにより、高い柔軟性を提供しています。

ディスプレイの測定におけるお客様の課題は何でしょうか?私たちと一緒に、正しいソリューションを見つけましょう。

製造業のお客様向けのオールインワンソリューション

長年の経験と豊富な専門知識に基づいて、私たちは生産現場のお客様に、優れた測定ソリューションを提供することができます。

私たちのオールインワン・パッケージは以下の通りです。

  • トレーサビリティーを確保しつつ、新しいアプリケーションのためにカスタマイズ
  • カスタマイズされた監査ソリューション (カメラとスペクトロメーターの監査)
  • 生産ラインへの簡単な統合
  • 基準機のための強力な分析ソフトウェア

弊社のアプリケーションサポートは、あらゆる生産ラインへの統合をご提供します。当社の優れたサービスは、世界中で、特にアジアでご利用いただけます。

ビデオでLumiTopポートフォリオをインタラクティブに体験してください!

関連アプリケーション